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薄膜厚度测厚仪

薄膜厚度测厚仪

薄膜厚度测厚仪适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试,还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测、试纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。

详细介绍

  详细描述

  薄膜厚度测厚仪CHY-5(High precision film thickness gauge CHY-5)采用机械式测量方法,适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。

高精度薄膜测厚仪

  高精度薄膜测厚仪

  应用范围:

  适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试,还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测、试纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。

  薄膜厚度测厚仪CHY-5技术指标:

  仪器型号:CHY-5

  测量范围:0-12.7mm

  分辨率:0.001 ㎜

  测量头直径:10mm(可选圆头测量头)

  测量面间平行度:<0.035 ㎜

  测试台面:双零级大理石台面

  外形尺寸:210mm×160mm×260mm(长宽高)

  重量:6kg

  环境温度:15℃-50℃

  相对湿度:不超过80%,无凝露

  试验环境:无震动,无电磁干扰

  标准配置:测厚仪主机、测量头