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自动薄膜测厚仪CHY-U

自动薄膜测厚仪CHY-U

三泉中石CHY-U自动薄膜测厚仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度的准确测量。

详细介绍


 详细描述

  在工业中,薄膜的厚度有着非常重要的意义,因为它直接关系到薄膜材料能否正常工作。尤其在大规模集成电路生产工艺中,薄膜厚度的任何微小变化都会对集成电路的性能产生直接的影响。除此之外,薄膜材料的厚度也影响着材料的力学性能,透光性能,磁性能,热导率,表面结构等。


自动薄膜测厚仪CHY-U

自动薄膜测厚仪CHY-U 

Sumspring三泉中石研发生产的CHY-U自动薄膜测厚仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度的准确测量。仪器配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,除此之外,仪器还配置微型打印机,数据实时显示、自动统计打印测试结果,可自动保存多达100组测试结果。


技术参数      

测量范围  0-2mm (其他量程可定制)

分辨率    0.1um

测量速度  10次/min(可调)

测量压力  17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张)

接触面积  50mm²(薄膜),200mm²(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种      

进样步矩  0 ~ 1300 mm(可调)

进样速度  0 ~ 120 mm/s(可调)  

机器尺寸  450mm×340mm×390mm (长宽高)   

重    量    23Kg

工作温度    15℃-50℃      

相对湿度    80%,无凝露    

试验环境    无震动,无电磁干扰   

工作电源    220V 50Hz  

参照标准

GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817     

产品配置 

标准配置:主机、标准量块、微型打印机

选用配置:软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器


技术特征 

1.自动薄膜测厚仪CHY-U 配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果 

2.打印大小值、平均值及每次测量结果,方便用户分析数据 

3.仪器自动保存少于等于100组测试结果,随时查看并打印 

4.标准量块标定,方便用户快速标定设备 

5.配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,误差小 

6.自动薄膜测厚仪CHY-U 软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户 

7.配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输