薄膜膜厚测试仪

　　详细描述

　　三泉中石专业研发生产薄膜膜厚测试仪,高精传感器,0.1μm高分辨率台式测厚仪.设备应用广泛,性能稳定,数据重复性好,是材料厚度检测的厚度仪器.

　　CHY-U薄膜膜厚测试仪除了具备高精度、高效率等特点外，还采用测量样品自动前进驱动系统，大大提高了测试效率，充分满足用户连续高效测试的要求，并配有专业软件支持，操作方便、人机交互友好。

　　薄膜膜厚测试仪CHY-U检测仪器

　　1、结构组成

　　CHY-U薄膜膜厚测试仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成，专业名称为测厚仪。测量系统对薄膜进行测量，并输出相应电信号;控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等;打印输出系统的功能是统计结果的输出，打印试验结果。

　　2、 功能原理

　　CHY-U薄膜膜厚测试仪采用世界测量领域先进技术成果，确保测量结果的准确性，多次测量结果的高度一致性;且操作调试极其方便，几近于自动化操作，较大限度地减少了人为因素对测量结果带来的影响;并具有手动、自动两种测量模式，对于手动模式测量，可打印输出测量结果，对于自动模式测量，可按照预先设置好的次数自动测试，并对测量结果进行统计、分析、打印输出;接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。

　　3、薄膜膜厚测试仪主要参数

　　仪器型号：CHY-U

　　其他名称：薄膜膜厚测量仪、薄膜测厚仪、薄膜厚度仪等

　　测量范围：0-2mm (其他量程可定制)

　　分辨率 ：0.1um

　　测量速度：10 次/分(可调)

　　测量压力：17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张)

　　接触面积：50mm2(薄膜)，200mm2(纸张) 注：薄膜、纸张任选一种

　　进样步矩：0 ～ 1300 mm(可调)

　　进样速度 ：0 ～ 120 mm/s(可调)

　　外形尺寸：450mm×340mm×390mm

　　重量：23kg

　　4、执行标准

　　ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817