测量薄膜厚度的仪器：CHY-HS测厚仪助力高精度材料检测

在现代工业生产中，塑料薄膜、纸张、铝箔等材料的厚度控制直接关系到产品的性能、安全性及成本控制。对于材料制造商和质检单位而言，一款精准、稳定的测量薄膜厚度的仪器是不可或缺的。济南三泉中石研发的CHY-HS型测厚仪，凭借高分辨率和符合标准的测试机制，已广泛应用于各类材料的厚度检测中。

一、产品概述：高精度·多材料适用

CHY-HS测厚仪专为0-2mm范围内各类材料设计，适用于薄膜、复合膜、硬片、金属箔、纸张等软质与硬质材料的厚度测量。仪器采用高精度位移传感技术，分辨率达0.1μm，可实现连续、多点、自动化厚度检测，是薄膜生产企业、质检机构及科研单位的重要测量工具。

二、测试原理：接触式测试，恒压稳测

CHY-HS测厚仪采用接触式机械测量原理。测试过程中，截取好尺寸的样品置于测量平台，测头在电控系统的驱动下自动降落，施加固定压力，在设定的接触面积范围内稳定接触样品表面，从而获取准确的厚度数值。

这种测试方式确保了在不同材质、不同厚度下均能获得稳定可靠的测量结果，尤其适用于对厚度公差要求严格的材料场景。

三、技术原理示意图解读

为了更清晰地展示CHY-HS的工作方式，以下为其简化工作结构示意图：

     ┌──────────────────────────┐
     │        测量头（加载压力）        │
     └────────▲──────────┘
              │
      （在设定压力下缓慢下降）
              │
      ┌──────┴──────┐
      │ 接触面（50mm² 或 200mm²） │
      └──────┬──────┘
              │
          ┌───▼───┐
          │  试样  │← 被测材料（薄膜/纸张）
          └───────┘
              │
        （测量基座）

• 测量头缓慢下降至试样表面；

• 在恒定的压力与接触面积条件下获取厚度；

• 自动完成数据采集与显示。

四、技术参数详解

注：薄膜和纸张模式可根据用户需求自由切换，满足不同材料测试要求。

五、标准依据：符合GB/T 6672规范

CHY-HS测厚仪严格参照GB/T 6672《塑料薄膜和薄片 厚度测定 机械测量法》**进行设计与校准，确保测试结果具备标准化和可比性。

标准测试流程包括：

• 在(23±2)℃恒温条件下对试样进行状态调节；

• 测量前确保仪器和试样无油污、灰尘；

• 每组样品测量前后均需校验零点；

• 测量头需缓慢放置，避免试样压缩变形；

• 根据样品长度测10~30个等距点位，获取均值和分布。

这一套完整流程，配合CHY-HS的高精度硬件设计，可大幅提升数据的可靠性和复现性。

六、应用案例：从实验室到生产线的全场景适配

在一家高端包装薄膜生产企业中，技术人员通过CHY-HS对每日生产批次进行随机取样检测。凭借其自动化控制和高分辨率感应器，仪器帮助企业将薄膜厚度波动范围稳定控制在±0.002mm以内，极大提升了产品的一致性和用户满意度。

此外，第三方检测机构也频繁使用CHY-HS进行复合材料和硬片的合规检测，为企业出具权威检测报告。

七、结语：让每一微米都更可靠

在精密制造时代，微米级的厚度差异都可能引发材料性能的变化。选择一款性能可靠、数据准确的测量薄膜厚度的仪器，是提升品质控制效率的关键。济南三泉中石CHY-HS测厚仪，正以其实力和稳定性赢得越来越多行业用户的信任。

如您有定制化需求，或想了解更多测试方案，欢迎随时与我们联系，获取更全面的技术支持。